Electrónica digital con prácticas

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Descripción

Si quieres aprender electrónica digital, te presentamos el práctico Curso de Electrónica Digital a distancia para que puedas dedicarte al diseño de circuitos electrónicos, al montaje y reparación de aparatos electrónicos y dispositivos audiovisuales, entre otras cosas.

Temario

CAPÍTULO 1: SISTEMAS Y CÓDIGOS DE NUMERACIÓN
1.1. GENERALIDADES. SISTEMA DECIMAL
1.2. SISTEMA BINARIO
1.3. SISTEMA OCTAL
1.4. SISTEMA HEXADECIMAL
1.5. CÓDIGOS BINARIOS
1.5.1.Código BCD
1.5.2.Código Gray
1.6.PROBLEMAS RESUELTOS
1.7.EJERCICIOS
CAPÍTULO 2: ÁLGEBRA DE BOOLE
2.1. DEFINICIÓN Y POSTULADOS
2.1.1. Propiedad Conmutativa
2.1.2. Elementos Neutros
2.1.3. Propiedad Distributiva
2.1.4. Inversión o Complementación
2.2. TEOREMAS DEL ÁLGEBRA DE BOOLE
2.2.1. Teorema 1
2.2.2. Teorema 2
2.2.3. Teorema 3
2.2.4. Teorema 4
2.3. TEOREMAS DE DE MORGAN.
2.3.1. Primer Teorema de De Morgan
2.3.2. Segundo Teorema de De Morgan
2.4. FUNCIONES DE UN ÁLGEBRA DE BOOLE
2.5. PROBLEMAS RESUELTOS EJERCICIOS
CAPÍTULO 3: TABLAS DE VERDAD, PUERTAS LÓGICAS Y SIMBOLOGÍA
3.1. TABLA DE VERDAD DE UNA FUNCIÓN LÓGICA
3.2. FORMA CANÓNICA MINTERMS
3.3. TIPOLOGÍA, FUNCIÓN Y CARACTERÍSTICAS DE LAS
PUERTAS LÓGICAS. SIMBOLOGÍA
3.3.1. Puerta NOT (NO)
3.3.2. Puerta OR (O)
3.3.3. Puerta AND (Y)
3.3.4. Puerta NOR (NO-O)
3.3.5. Puerta NAND (NO-Y)
3.3.6. Puerta EXOR (O-Exclusiva)
3.4. SIMPLIFICACIÓN DE FUNCIONES LÓGICAS
3.4.1. Método de Luque
3.4.2. Método de Karnaugh
3.5. PROBLEMAS RESUELTOS
3.6. EJERCICIOS
CAPÍTULO 4: TECNOLOGÍAS DE FABRICACIÓN DE LOS CIRCUITOS DIGITALES
4.1. CARACTERÍSTICAS DE LOS CIRCUITOS DIGITALES
4.1.1. Cargabilidad de Salida o FanOut
4.1.2. Cargabilidad de Entrada o FanIn
4.1.3. Tensión de Umbral
4.1.4. Margen de ruido
4.1.5. Inmunidad al ruido
4.1.6. Tiempo de propagación
4.1.7. Potencia disipada
4.1.8. Producto potencia disipadatiempo de propagación
4.2. CIRCUITOS INTEGRADOS RTL
4.3. CIRCUITOS INTEGRADOS DTL
4.4. CIRCUITOS INTEGRADOS TTL
4.4.1. Circuitos Integrados TTL
4.4.2. TTL de baja potencia
4.4.3. TTL de gran velocidad
4.4.4. TTL Schottky
4.5. CIRCUITOS INTEGRADOS ECL
4.6. CIRCUITOS INTEGRADOS HTL
4.7. CIRCUITOS INTEGRADOS I2L
4.8. CIRCUITOS INTEGRADOS CMOS
4.9. PROBLEMAS RESUELTOS
4.10. EJERCICIOS
CAPÍTULO 5: BLOQUES FUNCIONALES COMBINACIONALES
5.1. INTRODUCCIÓN
5.2. DECODIFICADORES
5.3. DEMULTIPLEXORES
5.4. CODIFICADORES
5.5. MULTIPLEXORES
5.6. COMPARADORES BINARIOS
5.7. PROBLEMAS RESUELTOS
5.8. EJERCICIOS
CAPÍTULO 6: SISTEMAS SECUENCIALES
6.1. INTRODUCCIÓN
6.2. SISTEMAS SECUENCIALES ASÍNCRONOS
6.2.1. Biestables asíncronos activados mediante niveles
6.2.2. Biestables asíncronos accionados por flancos
6.3. SISTEMAS SECUENCIALES SÍNCRONOS
6.3.1. Biestables sincronizados por nive
6.3.2. Biestables sincronizados por flancos
6.4. PROBLEMAS RESUELTOS
6.5. EJERCICIOS
CAPÍTULO 7: BLOQUES FUNCIONALES SÍNCRONOS
7.1. INTRODUCCIÓN
7.2. CONTADORES
7.2.1. Contadores asíncronos
7.2.2. Contadores BCD
7.2.3. Contadores síncronos
7.3. DIVISORES DE FRECUENCIA
7.4. REGISTROS DE DESPLAZAMIENTO
7.4.1. Aplicaciones de los Registros de Desplazamiento
7.5. PROBLEMAS RESUELTOS
7.6. EJERCICIOS
CAPÍTULO 8: ARITMÉTICA EN LOS CÓDIGOS BINARIOS
8.1. INTRODUCCIÓN
8.2. SUMA ARITMÉTICA BINARIA
8.2.1. Circuito Semisumador
8.2.2. Circuito Sumador Total
8.3. RESTA BINARIA
8.3.1. Representación de los números negativos
8.3.2. Resta mediante el convenio del complemento a dos
8.3.3. Resta mediante el convenio del complemento a uno
8.4. CIRCUITO INTEGRADO 74LS283
8.5. UNIDADES ARITMÉTICAS Y LÓGICAS
8.6. PROBLEMAS RESUELTOS EJERCICIOS
CAPÍTULO 9: CIRCUITOS ELECTRÓNICOS DE CONVERSIÓN A/D Y D/A
9.1. SEÑALES ANALÓGICAS Y DIGITALES
9.2. CONVERTIDOR DIGITALANALÓGICO (DAC)
9.3. CONVERTIDOR ANALÓGICO-DIGITAL (ADC)
9.4. CONEXIONES ENTRE ADC Y DAC Y ELEMENTOS
DE CONTROL MICROPROGRAMABLES
9.5. PROBLEMAS RESUELTOS
9.6. EJERCICIOS
CAPÍTULO 10: OSCILADORES DIGITALES
10.1. TEMPORIZADORES Y MULTIVIBRADORES
10.2. MULTIVIBRADOR MONOESTABLE
10.2.1 Monoestables realizados con puertas lógicas
10.2.2. Monoestables realizados con CI específicos
10.3. MULTIVIBRADORES ASTABLES
10.3.1 Astables realizados con puertas lógicas
10.3.2 Astables realizados con CI específicos
10.4. CIRCUITO INTEGRADO 555
10.5. PROBLEMAS RESUELTOS
10.6. EJERCICIOS
CAPÍTULO 11: UNIDADES DE MEMORIA
11.1. INTRODUCCIÓN
11.2. PARÁMETROS Y CARACTERÍSTICAS MÁS
IMPORTANTES DE UNA MEMORIA
11.2.1. Capacidad de una memoria
11.2.2. Tiempo de acceso
11.3. LÍNEAS MÁS USUALES EN UNA MEMORIA
11.4. MEMORIA DE ACCESO ALEATORIA (RAM)
11.4. MEMORIA DE SÓLO LECTURA (ROM)
11.5. MEMORIA PROM
11.6. MEMORIA EPROM
11.7. MEMORIA EEPROM
11.8. MEMORIA FLASH
11.9. MEMORIAS DE MASA
11.10. MAPAS DE MEMORIA
11.11. MATRICES LÓGICAS PROGRAMABLES
11.12. AMPLIACIONES DE MEMORIA
11.12.1. Ampliación de memoria manteniendo el número de líneas del bus de datos
11.12.2. Ampliación de memoria aumentando el número de líneas del bus de datos
11.13. PROBLEMAS RESUELTOS
11.14. EJERCICIOS
CAPÍTULO 12: MICROPROCESADORES Y MICROCONTROLADORES
12.1. INTRODUCCIÓN
12.2. EL MICROPROCESADOR
12.2.1. Unidad de Control
12.2.2. Registros internos
12.2.3. Buses internos
12.2.4 Vectores
12.2.5 Interrupciones
12.2.6 Microprocesador 6502. Bloques internos
12.3. ARQUITECTURA BÁSICA
12.3.1. Buses
12.3.2. Arquitectura básica del microprocesador
12.3.3. Microprocesador 6502
12.3.4. Mapa de Memoria
12.4. MODOS DE DIRECCIONAMIENTO. INSTRUCCIONES
12.4.1. Modos de direccionamiento
12.5. DISPOSITIVOS PERIFÉRICOS
12.6. MICROCONTROLADOR 8051
12.7. PROBLEMAS RESUELTOS
12.8. EJERCICIOS
CAPÍTULO 13: MEDIDAS Y DIAGNÓSTICO DE AVERÍAS
13.1. INTRODUCCIÓN
13.2. LA SONDA LÓGICA
13.3. EL INYECTOR LÓGICO
13.4. EL ANALIZADOR LÓGICO
13.4.1. Pantalla del analizador lógico
13.4.2. Controles del analizador lógico
13.5. OTROS INSTRUMENTOS DE MEDIDAS
13.5.1. El polímetro
13.5.2. El generador de funciones
13.5.3. El osciloscopio
13.6. APARICIÓN DE UNA AVERÍA
13.7. LOCALIZACIÓN DE UNA AVERÍA
13.7.1. Reconocimiento visual del circuito a reparar
13.7.2. Análisis del circuito a reparar
13.8. COMPROBACIÓN DE COMPONENTES
13.8.1. Comprobación de resistencias
13.8.2. Comprobación de condensadores
13.8.3. Comprobación de diodos
13.8.3. Comprobación de transistores
13.9. PRECAUCIONES EN LAS REPARACIONES
13.10. PROBLEMAS RESUELTOS
13.11. EJERCICIOS.

Convocatorias

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